어플리케이션
FTIR
45초 만에 IR 투과용 고분자 필름 스펙트럼 측정(Get an IR transmission polymer film spectrum in less than 45 Seconds)
[오늘의 핵심 미리보기]
Q. 제작한 고분자 필름을 빠르게 FT-IR로 분석할 수 있을까요?
A. Mini Plane과 PIKE Beam Condenser를 이용하면 가능합니다.
필름을 Holder에 장착한 후 약 32초 만에 스펙트럼을 측정하여,
필름 제작부터 분석까지 전체 과정을 45초 이내에 완료할 수 있습니다.
지난 글에서 Mini Plane을 이용하여 IR 투과 측정용 고분자 필름을 3초 이내에 제작하는 방법을 소개해 드렸습니다.
이렇게 제작한 필름을 PIKE Beam Condenser를 이용하여 FT-IR로 빠르게 분석하는 방법을 소개해드립니다.
필름을 제작한 후 별도의 복잡한 과정 없이 Holder에 장착하고 FT-IR 측정을 진행할 수 있어,
고분자 필름의 제작부터 분석까지 빠르게 수행할 수 있습니다.
1. Mini Plane으로 제작한 고분자 필름 준비
먼저 지난주와 동일하게 Mini Plane을 이용하여 고분자 필름을 제작합니다.
시료 위에 Mini Plane을 올려놓고 당겨주면,
Mini Plane이 시료를 절삭하면서 FT-IR 투과 측정에 사용할 수 있는 필름을 만들어 줍니다.
이렇게 제작된 필름을 PIKE Beam Condenser를 이용하여 분석해 보겠습니다.
2. Beam Condenser Pellet Holder에 필름 장착
제작한 필름은 Beam Condenser Pellet Holder에 장착합니다.
이번 측정에서는 1 mm Die Collar를 사용합니다.
필름을 Holder의 Aperture 위에 올려놓은 후 Magnet으로 고정하면 시료 장착이 완료됩니다.
필름을 간단하게 고정할 수 있기 때문에
별도의 복잡한 시료 준비 과정 없이 바로 측정을 진행할 수 있습니다.
3. FT-IR Background 측정 후 스펙트럼 측정
시료 장착이 완료되면 FT-IR 측정을 진행합니다.
먼저 Background를 측정한 후,
필름 시료가 장착된 Holder를 장비에 넣고 스펙트럼을 측정합니다.
영상에서는 Nylon 66 필름을 이용하여 측정을 진행했습니다.
측정 조건은 다음과 같습니다.
Resolution: 4 cm⁻¹
Scans: 32 scans
측정 결과, 깨끗하고 안정적인 Nylon 66 스펙트럼을 확인할 수 있었습니다.
4. 약 32초 만에 스펙트럼 측정
이번 측정에서 필름 시료를 장착한 이후 스펙트럼을 얻는 데 걸린 시간은 약 32초였습니다.
즉, Mini Plane을 이용한 필름 제작 과정과 Beam Condenser를 이용한 FT-IR 분석을 연결하면,
필름 제작 → 시료 장착 → FT-IR 측정
전체 과정을 45초 이내에 완료할 수 있습니다.
빠른 분석이 필요한 고분자 시료의 FT-IR 투과 측정에서 효율적으로 활용할 수 있는 방법입니다.
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