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어플리케이션

FTIR

[SR]정반사 측정 시 유의사항

관리자 2022-09-13 조회수 1,014



오늘은 정반사(Specular Reflection) 샘플링에 대해 이야기해보겠습니다.

이것은 크기가 있는 고체 물질을 샘플링하기 위한 훌륭한 기술입니다.

또한 이는 단층 또는 초박막도 볼 수도 있습니다.

오늘 저는 두 개의 정반사 액세서리를 가지고 왔습니다.

하나의 가변 각도 장비인 VeeMax III, 다른 하나는 10°의 입사각 10spec입니다.

이러한 액세서리를 사용할 때 샘플이 샘플링 표면 위에 평평하게 놓이도록 하는 것은 매우 중요합니다.

이것은 두 가지 이유 때문입니다.

첫 번째로, 이 액세서리들은 상단에 집중하도록 설계되었습니다.

두 번째로, 샘플이 평평하지 않은 경우 빔이 고정된 각도로 올라오도록 약간의 기포가 있다고 가정해 보겠습니다.

이 액세서리는 동일한 각도에서 빔을 선택하도록 설계되었습니다.

따라서 빔이 샘플에서 10°에서 10을 뒤로 하고 기포로 올라오면 빔은 샘플에 부딪혀 10° 이외의 각도로 반사됩니다.

그 결과 반사된 광선의 일부만 포착하거나 거의 포착할 수 없습니다.(즉 샘플링이 힘들 수 있음)

즉, 평평하지 않은 샘플을 분석할 때는 액세서리를 놓고 그것을 평평하게 하기 위해 위에 무거운 것을 올려놓으세요.